Interfacial Compatibility in Microelectronics Moving Away from the Trial and Error Approach
Finna-recension
Interfacial Compatibility in Microelectronics Moving Away from the Trial and Error Approach
Sparad:
| Fysisk beskrivning |
X, 218 p. online resource |
|---|---|
| Språk |
engelska |
| Utgivare |
London :
Springer London,
2012.
|
| Serie | Microsystems, ISSN 1389-2134 |
| DDK-klassifikation |
620.5 |
| Ämnen | |
| Mer information | by Tomi Laurila, Vesa Vuorinen, Mervi Paulasto-Kröckel, Markus Turunen, Toni T. Mattila, Jorma Kivilahti |
| Painettu |
9781447124696 |
| ISBN |
9781447124702 |
| DOI | 10.1007/978-1-4471-2470-2 |
| Tillgång | Aineisto on käytettävissä Jyväskylän yliopiston verkossa |
| Anmärkningar |
SpringerLink eBooks |
| Standardkoder |
doi 10.1007/978-1-4471-2470-2 |