Interfacial Compatibility in Microelectronics Moving Away from the Trial and Error Approach
Finna-arvio
Interfacial Compatibility in Microelectronics Moving Away from the Trial and Error Approach
Tallennettuna:
Ulkoasu |
X, 218 p. online resource |
---|---|
Kieli |
englanti |
Julkaisija |
London :
Springer London,
2012.
|
Sarja | Microsystems, ISSN 1389-2134 |
Dewey-luokitus |
620.5 |
Aiheet | |
Lisätiedot | by Tomi Laurila, Vesa Vuorinen, Mervi Paulasto-Kröckel, Markus Turunen, Toni T. Mattila, Jorma Kivilahti |
Painettu |
9781447124696 |
ISBN |
9781447124702 |
DOI | 10.1007/978-1-4471-2470-2 |
Pääsy | Aineisto on käytettävissä Jyväskylän yliopiston verkossa |
Huomautukset |
SpringerLink eBooks |
Standarditunnukset |
doi 10.1007/978-1-4471-2470-2 |