A goodness-of-fit test based on binary data
Finna-arvio
A goodness-of-fit test based on binary data
Tallennettuna:
| Ulkoasu |
[2] sivua, 11 lehteä ; 25 cm |
|---|---|
| Kieli |
englanti |
| Alkuteoksen kieli |
englanti |
| Julkaisija |
Tampere :
University of Tampere,
1995.
|
| Sarja | Raportti / Tampereen yliopisto, matemaattisten tieteiden laitos, A, ISSN 0356-4231; 292. |
| Luokitus | |
| Lisätiedot | Zhen Hai Yang, Erkki P. Liski |
| ISBN |
951-44-3707-1 nidottu |