Unifying Concepts for Ion-Induced Leakage Current Degradation in Silicon Carbide Schottky Power Diodes - Johnson, R. A.; Witulski, A. F.; Ball, D. R.; Galloway, K. F.; Sternberg, A. L.; Reed, R. A.; Schrimpf, R. D.; Alles, J. M.; Lauenstein, J. M.; Javanainen, A.; Raman, A.; Chakraborty, P. S.; et al. (IEEE, 2020)