Microscopic identification of electronic defects in semiconductors : symposium held April 15-18, 1985, San Francisco, California, U.S.A

Kuvaan voi liittyä käytön rajoituksia.

QR-koodi
Finna-arvio
(0)

Microscopic identification of electronic defects in semiconductors : symposium held April 15-18, 1985, San Francisco, California, U.S.A

Tallennettuna:
Ulkoasu
604 sivua : kuvitettu
Kieli
englanti
Julkaisija Pittsburgh, PA : Materials Research Society cop. 1985.
SarjaMaterials Research Society symposia proceedings, vol. 46.
Luokitus
Lisätiedot
eds.: Noble M. Johnson, Stephen G. Bishop, George D. Watkins
ISBN
0-931837-11-1