Practical scanning electron microscopy : electron and ion microprobe analysis
Finna-arvio
Practical scanning electron microscopy : electron and ion microprobe analysis
Tallennettuna:
| Ulkoasu |
582 sivua : kuvitettu |
|---|---|
| Kieli |
englanti |
| Alkuteoksen kieli |
englanti |
| Huomautukset |
Lisäpainokset: Originally publ. in 1975. |
| Julkaisija |
New York & London,
1975.
|
| Luokitus | |
| Lisätiedot | ed. by Joseph I. Goldstein and Harvey Yakowitz |
| ISBN |
0-306-30820-7 kovakantinen |