Puolijohdekiteiden topografia röntgendiffraktometrilla

QR-koodi

Puolijohdekiteiden topografia röntgendiffraktometrilla

https://aaltodoc.aalto.fi/handle/123456789/3376

http://www.urn.fi/URN:NBN:fi:aalto-201203181602

s_viljanen_h.pdf (Aalto-yliopisto - Aaltodoc)

Kandityö

Viljanen, Heikki ; Sähkö- ja tietoliikennetekniikan osasto ; Turunen, Markus ; Aalto-yliopisto ; Aalto University

Teknillinen korkeakoulu 2006

Tallennettuna:

Kieli

suomi

Aiheet

röntgendiffraktio

puolijohdekiteet

Henkilökuntanäyttö