Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis
Finna-arvio
Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis
Tallennettuna:
Ulkoasu |
xxiii, 550 sivua : kuvitettu |
---|---|
Kieli |
englanti |
Alkuteoksen kieli |
englanti |
Julkaisija |
New York :
Springer,
©2018
|
Luokitus | |
Aiheet | |
Lisätiedot | Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Joseph R. Michael, Nicholas W.M. Ritchie, John Henry J. Scott, David C. Joy |
ISBN |
9781493982691 nidottu |