Tietueen sitaatit
APA-viiteLaurila, T. k., Vuorinen, V. k., Paulasto-Kröckel, M. k., Turunen, M. k., Mattila, T. T. k., & Kivilahti, J. k. (2012). Interfacial Compatibility in Microelectronics: Moving Away from the Trial and Error Approach. Springer London. https://doi.org/10.1007/978-1-4471-2470-2
Chicago-tyylinen lähdeviittausLaurila, Tomi. kirjoittaja, Vesa. kirjoittaja Vuorinen, Mervi. kirjoittaja Paulasto-Kröckel, Markus. kirjoittaja Turunen, Toni T. kirjoittaja Mattila, ja Jorma. kirjoittaja Kivilahti. Interfacial Compatibility in Microelectronics: Moving Away from the Trial and Error Approach. London: Springer London, 2012. https://doi.org/10.1007/978-1-4471-2470-2.
MLA-viiteLaurila, Tomi. kirjoittaja, et al. Interfacial Compatibility in Microelectronics: Moving Away from the Trial and Error Approach. Springer London, 2012. https://doi.org/10.1007/978-1-4471-2470-2.
Harvard-tyylinen lähdeviittausLaurila, T. k., Vuorinen, V. k., Paulasto-Kröckel, M. k., Turunen, M. k., Mattila, T. T. k. & Kivilahti, J. k. 2012. Interfacial Compatibility in Microelectronics: Moving Away from the Trial and Error Approach. London: Springer London.