Haku

Tietueen sitaatit

APA-viite

Laurila, T. k., Vuorinen, V. k., Paulasto-Kröckel, M. k., Turunen, M. k., Mattila, T. T. k., & Kivilahti, J. k. (2012). Interfacial Compatibility in Microelectronics: Moving Away from the Trial and Error Approach. Springer London. https://doi.org/10.1007/978-1-4471-2470-2

Chicago-tyylinen lähdeviittaus

Laurila, Tomi. kirjoittaja, Vesa. kirjoittaja Vuorinen, Mervi. kirjoittaja Paulasto-Kröckel, Markus. kirjoittaja Turunen, Toni T. kirjoittaja Mattila, ja Jorma. kirjoittaja Kivilahti. Interfacial Compatibility in Microelectronics: Moving Away from the Trial and Error Approach. London: Springer London, 2012. https://doi.org/10.1007/978-1-4471-2470-2.

MLA-viite

Laurila, Tomi. kirjoittaja, et al. Interfacial Compatibility in Microelectronics: Moving Away from the Trial and Error Approach. Springer London, 2012. https://doi.org/10.1007/978-1-4471-2470-2.

Harvard-tyylinen lähdeviittaus

Laurila, T. k., Vuorinen, V. k., Paulasto-Kröckel, M. k., Turunen, M. k., Mattila, T. T. k. & Kivilahti, J. k. 2012. Interfacial Compatibility in Microelectronics: Moving Away from the Trial and Error Approach. London: Springer London.

Muista tarkistaa viitteiden oikeellisuus, ennen kuin käytät niitä tekstissäsi.