Interfacial Compatibility in Microelectronics Moving Away from the Trial and Error Approach
Finna-arvio
Interfacial Compatibility in Microelectronics Moving Away from the Trial and Error Approach
Tallennettuna:
| Ulkoasu |
X, 218 p. online resource |
|---|---|
| Kieli |
englanti |
| Alkuteoksen kieli |
englanti |
| Julkaisija |
London :
Springer London,
2012.
|
| Sarja | Microsystems, ISSN 1389-2134 |
| Dewey-luokitus |
620.5 |
| Aiheet | |
| Lisätiedot | by Tomi Laurila, Vesa Vuorinen, Mervi Paulasto-Kröckel, Markus Turunen, Toni T. Mattila, Jorma Kivilahti |
| Painettu |
9781447124696 |
| ISBN |
9781447124702 |
| DOI | 10.1007/978-1-4471-2470-2 |
| Pääsy | Aineisto on käytettävissä Jyväskylän yliopiston verkossa |
| Huomautukset |
SpringerLink eBooks |
| Standarditunnukset |
doi 10.1007/978-1-4471-2470-2 |